secondary ion mass spectroscopy

  • 释义

    次级离子质谱(法)

数据更新时间:2026-04-19 17:14:58
1、

Depth profile of the SiOF thin film from secondary ion mass spectroscopy showed the uneven distribution of F in the film.

二次离子质谱对薄膜深度分析的结果表明,F在薄膜中的分布是不均匀的。

互联网摘选

2、

A time-of-flight secondary ion mass spectrometer ( TOF-SIMS), X-ray photoelectron spectroscopy ( XPS), an atomic force microscopy ( AFM), and contact angle measurements were used to characterize the monolayer.

使用时间飞行二次离子质谱仪(TOF-SIMS)、X射线光电子能谱仪(XPS)、原子力显微镜(AFM)和接触角测量仪对FTE自组装膜进行了表征。

互联网摘选

  • 相关词组
  • 今日热词
  • 热门搜索

英语网英语词典(dict.25820.com)为您提供在线翻译英语词典单词大全英译汉汉译英等英语服务!可按单词字数词义分类查询。支持lj:关键词格式查询例句。

用户反馈
请选择反馈类型(可多选):
您的联系方式:
反馈内容:
提交成功 小编会尽快处理
回到顶部
点击反馈